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Las condiciones de los requisitos de seguridad de los equipos de ensayo se especifican en el anexo II.

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Descripción: Se trata de un sistema de transmisión de datos que se utiliza para transmitir información a través d

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Resaltar:
Categoría:
Productos discretos de semiconductores Diodos Rectificadores Diodos únicos
estado del producto:
Actividad
Corriente - fuga inversa @ Vr:
1 μA @ 400 V
Tipo de montaje:
Montura de la superficie
Voltado - hacia adelante (Vf) (máximo):
1.5 V @ 9 A
Paquete:
Cintas y bobinas (TR)
Series:
-
Capacidad @ Vr, F:
-
Paquete de dispositivos del proveedor:
B, SQ-MELF
Tiempo de recuperación inverso (trr):
150 ns
El Sr.:
Tecnología de microchips
Tecnología:
Estándar
Temperatura de funcionamiento - Enlace:
-65 °C ~ 175 °C
Envase / estuche:
SQ-MELF, B
La tensión - DC inversa (Vr) (máximo):
Las demás:
Corriente - promedio rectificado (Io):
3A
Velocidad:
La velocidad de recuperación es < 500 ns, > 200 mA (Io)
Categoría:
Productos discretos de semiconductores Diodos Rectificadores Diodos únicos
estado del producto:
Actividad
Corriente - fuga inversa @ Vr:
1 μA @ 400 V
Tipo de montaje:
Montura de la superficie
Voltado - hacia adelante (Vf) (máximo):
1.5 V @ 9 A
Paquete:
Cintas y bobinas (TR)
Series:
-
Capacidad @ Vr, F:
-
Paquete de dispositivos del proveedor:
B, SQ-MELF
Tiempo de recuperación inverso (trr):
150 ns
El Sr.:
Tecnología de microchips
Tecnología:
Estándar
Temperatura de funcionamiento - Enlace:
-65 °C ~ 175 °C
Envase / estuche:
SQ-MELF, B
La tensión - DC inversa (Vr) (máximo):
Las demás:
Corriente - promedio rectificado (Io):
3A
Velocidad:
La velocidad de recuperación es < 500 ns, > 200 mA (Io)
Las condiciones de los requisitos de seguridad de los equipos de ensayo se especifican en el anexo II.
Diodo 400 V 3A montura de superficie B, SQ-MELF