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Las condiciones de ensayo de los equipos de ensayo deberán ser las siguientes:

Detalles del producto

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Description: DIODE GEN PURP 400V 2A A SQ-MELF

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Category:
Discrete Semiconductor Products Diodes Rectifiers Single Diodes
Product Status:
Active
Current - Reverse Leakage @ Vr:
10 µA @ 400 V
Mounting Type:
Surface Mount
Voltage - Forward (Vf) (Max) @ If:
1.25 V @ 1 A
Package:
Tape & Reel (TR)
Series:
-
Capacitance @ Vr, F:
-
Supplier Device Package:
A, SQ-MELF
Reverse Recovery Time (trr):
50 ns
Mfr:
Microchip Technology
Technology:
Standard
Operating Temperature - Junction:
-55°C ~ 175°C
Package / Case:
SQ-MELF, A
Voltage - DC Reverse (Vr) (Max):
400 V
Current - Average Rectified (Io):
2A
Speed:
Fast Recovery =< 500ns, > 200mA (Io)
Category:
Discrete Semiconductor Products Diodes Rectifiers Single Diodes
Product Status:
Active
Current - Reverse Leakage @ Vr:
10 µA @ 400 V
Mounting Type:
Surface Mount
Voltage - Forward (Vf) (Max) @ If:
1.25 V @ 1 A
Package:
Tape & Reel (TR)
Series:
-
Capacitance @ Vr, F:
-
Supplier Device Package:
A, SQ-MELF
Reverse Recovery Time (trr):
50 ns
Mfr:
Microchip Technology
Technology:
Standard
Operating Temperature - Junction:
-55°C ~ 175°C
Package / Case:
SQ-MELF, A
Voltage - DC Reverse (Vr) (Max):
400 V
Current - Average Rectified (Io):
2A
Speed:
Fast Recovery =< 500ns, > 200mA (Io)
Las condiciones de ensayo de los equipos de ensayo deberán ser las siguientes:
Diodo de 400 V 2A montado en superficie A, SQ-MELF